關(guān)于半導(dǎo)體芯片進(jìn)行高低溫測試的一些關(guān)鍵


半導(dǎo)體芯片進(jìn)行高低溫測試，需要用到勤卓品牌高低溫試驗箱，本設(shè)備具有簡單便利的操作性能和可靠的設(shè)備性能可以測試半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化。

半導(dǎo)體芯片高低溫測試需要特別注意，在使用的過程中不能輕易打開半導(dǎo)體芯片高低溫試驗箱，主要原因如下：

半導(dǎo)體芯片高低溫測試是模擬環(huán)境的試驗箱，在使用時，試驗箱內(nèi)可能會有各種極端的環(huán)境，例如較低溫、高溫高壓、高溫高濕等特殊條件。

如果試驗箱中正在進(jìn)行-70℃的較低溫測試，這個時候打開試驗箱門，先寒冷的氣流會溢出試驗箱，如果我們的手指沒有做任何防護(hù)觸摸到試驗箱壁貨樣品上，會瞬間**，**部位的肌肉組織甚至?xí)乃?。另外在較低溫的情況下打開試驗箱門可能會造成蒸發(fā)器結(jié)霜，會影響降溫速度，甚至有可能會造成壓縮機(jī)損壞等問題。

如果試驗箱中正在進(jìn)行高溫150℃的測試時打開試驗箱門，高溫氣體會瞬間沖出試驗箱，如果沒有做好相關(guān)防護(hù)，很有可能會**我們的面部，如果試驗箱旁有燃點(diǎn)低的可燃物，甚至可能會引起起火。

如果是其他環(huán)境試驗設(shè)備時，比如恒溫恒濕試驗箱在進(jìn)行高溫高濕試驗箱時，儀器內(nèi)的壓力和蒸汽會非常大，如果在此時打開試驗箱門，也會有高溫高濕的蒸汽沖出試驗箱，也較有可能會對操作人員造成嚴(yán)重的**。

所以，在半導(dǎo)體芯片高低溫測試運(yùn)行中途，若沒有非常必要打開試驗箱門，請勿打開試驗線門，如果須要使用中途打開試驗箱門，那么請一定做好相關(guān)的防護(hù)措施，用正確的方法打開試驗箱門。